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ISO4593-1993 機(jī)械掃描法薄膜薄片厚度儀

更新時間:2025-02-10

簡要描述:

DRK203 ISO4593-1993 機(jī)械掃描法薄膜薄片厚度儀,設(shè)備結(jié)構(gòu)科學(xué)合理,使用安全可靠,依據(jù)GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的測定—機(jī)械測量法》和ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用機(jī)械掃描法測定厚度》等標(biāo)準(zhǔn)研發(fā)制造。

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DRK203 ISO4593-1993 機(jī)械掃描法薄膜薄片厚度儀,設(shè)備結(jié)構(gòu)科學(xué)合理,使用安全可靠,依據(jù)GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的測定—機(jī)械測量法》和ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用機(jī)械掃描法測定厚度》等標(biāo)準(zhǔn)研發(fā)制造。


ISO4593-1993 機(jī)械掃描法薄膜薄片厚度儀

DRK203 ISO4593-1993 機(jī)械掃描法薄膜薄片厚度儀,設(shè)備是用機(jī)械測量法測定塑料薄膜和薄片厚度的儀器,但不是適用于壓花的薄膜和薄片。主要用于塑料薄膜、薄片、紙張、紙板的厚度測試,還可擴(kuò)展用于箔片、硅片、金屬片的厚度測試。

DRK203 GB/T6672-2001 機(jī)械掃描法薄膜薄片厚度儀, 技術(shù)參數(shù):

測量范圍:0~1mm

分度值:0.001mm

測頭端部的力:

(1)上測頭的測量面為¢6mm平面,下測頭為平面時,測頭對試樣施加的力為0.5~1.0N;

(2)上測量面為(R15—R50)mm曲率半徑,下測頭為平面時,測頭對試樣施加的力為0.1~0.5N;

注:因技術(shù)進(jìn)步更改資料,恕不另行通知,產(chǎn)品以后期實(shí)物為準(zhǔn)。

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